氧化锌压敏电阻的老化机理

来源 :中国电子学会敏感技术分会第十五届电压敏学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:surezheng12345678
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  从氧化锌压敏电组U-I特性、介电特性以及热激发电流(TSC),综述了压敏电阻直流电压和交流电压作用引起的老化现象。氧化锌压敏电阻的老化,归因于晶粒边界区中耗尽层中填隙锌离子Zn的扩散,由同时施加的电压和温度引起的。当耗尽层中的填隙锌通过加热退火处理永久地扩展出来,压敏电阻的稳定性得以改善。文章综述了氧化锌压敏电阻的老化现象,老化原因,老化机理和老化的预防方法。
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