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本文研究了火焰水解法制备的掺锗二氧化硅膜在 KrF 紫外激光下曝光后的结构和光学性质的变化。经过 10 分钟的照射后,在 1550nm 处的折射率变化大约为 3.41×10-3。采用原子力显微镜分析了曝光过程及膜的表面形貌,随着曝光时间的增长,膜的致密性增加,表面粗糙度下降,折射率增大。