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特征X射线是电子探针分析的主要信息,根据特征频率(或波长)就可以识别样品中存在哪种元素,这是电子探针定性分析的基本原理.在定性分析的释谱过程中要注意谱线的判别,峰的重叠和X射线的形态变化所引起的峰位的变化.本文主要在EMX-SM7型电子探针上进行谱线分峰研究,鉴别干扰峰,提高分析的准确性和精度.