随着工艺的发展，尤其到45nm以下，工艺波动、串扰、电源噪声分布以及阻性短路和开路等会引入大量小时延缺陷(small delay defect)，这些小时延在高频电路中可能引起时序功能失效，导致质量和可靠性争端。因此，为了提高故障覆盖率和测试有效性，小时延缺陷测试成为延迟测试的关键。许多典型的小时延测试方法或者通过增加测试向量集数目与自动测试向量生成(ATPG)时间，或者改变电路结构(比如超速测试)。基于上述前提，本文提出了一种基于归一化的小时延测试方法，通过归一化计算检测故障路径与可检测故障最长路径比值的方法选取出多检测(n-detect)跳变故障ATPG中测试小时延缺陷最有效的测试向量，再增加少量的Top -off测试向量(1- detect ATPG)，构成总的测试向量集。实验结果表明该方法不仅可以降低ATPG时间，减少测试向量数目，而且可以提高小时延缺陷测试的有效性。