CeO2缓冲层表面形貌随磁控溅射参数的演化及其对YBCO层的影响

来源 :第十二届全国超导学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:aidam
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本文采用射频磁控溅射方法在单晶YSZ上沉积高温超导涂层导体CeO2缓冲层,通过原子力显微镜(AFM)对薄膜表面形貌进行表征,发现其随沉积参数(溅射气压,射频功率)出现明显的演化规律,缓冲层表面可呈现平整结构、纳米颗粒结构或相互垂直的拉长岛状结构.X射线衍射(XRD)测量揭示了薄膜应变状态与表面形貌的演化存在很强的相关性.
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