红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术

来源 :第十三届全国红外科学技术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dsfgsdfwe
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该文详细介绍利用DIC-8032大型测试系统对红外焦平面信号电路的测试方法,测试码点的生成,电路的故障诊断和版图验证及测试程度的开发性。
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