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在全光散射法颗粒测量中,提出了一种采用遗传算法反演颗粒折射率,平均粒径及其粒径分布的方法.仿真实验结果表明,该方法可以较准确地反演出颗粒的平均粒径及其粒径分布,可降低折射率变化所带来的测量误差,扩大了全光散射法颗粒测量的应用范围.实际测试粒径分布的反演误差低于10%,很好地满足了工业实际测试的需要.