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本文提出了基于单CCD应用线结构光测量熔覆层厚度的理论方法,结合摄像机标定、光平面标定、被测物体点三维坐标计算、数据融合、对应点匹配和熔覆层厚度计算等关键技术,建立了一套基于单CCD借助线结构光测量熔覆层厚度的系统,并对系统的结构进行了详细的叙述,此系统的建立为实现熔覆层厚度的定量测量提供了技术支持.