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强电离层闪烁可引起多颗GNSS卫星信号失锁或测量误差增大，严重影响RAIM功能实现。对闪烁影响下的RAIM可用性进行预测是完好性应用的重要措施。本文从信号链路失锁和伪距测量误差两个方面提出电离层闪烁影响分析的建模方法。提出利用概率统计方法建立链路失锁预测模型，并利用中国区域电离层闪烁数据确定了信号失锁的Weibull概率模型及相应参数。通过对理论模型合理扩展实现闪烁影响下的伪距测量误差模型，避免原有模型中存在的闪烁指数受限问题。利用闪烁统计预测结果，结合建立的闪烁影响模型，对典型电离层闪烁影响情况下的RAIM可用性进行分析，给出了闪烁影响下的RAIM可用性分布，表明所建立模型的合理性。