【摘 要】
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针对电子元器件多余物检测，本文提出一种基于工业CT图像的自适应控制核检测方法。该方法对标准电子元器件和待检测电子元器件的CT图像进行分析，分别计算标准件与待检测件的CT图像的自适应控制核，然后通过判别自适应控制核的相似性来判定待检测电子元器件中是否存在多余物。本文对电容进行多余物检测实验，实验结果证明该方法能够有效检测出电子元器件的多余物，并且对噪声不敏感。
【机 构】
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School of Mechanical Engineering and Automation, Beijing University of Aeronautics and Astronautics,
【出 处】
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2012全国射线数字成像与CT新技术研讨会
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针对电子元器件多余物检测，本文提出一种基于工业CT图像的自适应控制核检测方法。该方法对标准电子元器件和待检测电子元器件的CT图像进行分析，分别计算标准件与待检测件的CT图像的自适应控制核，然后通过判别自适应控制核的相似性来判定待检测电子元器件中是否存在多余物。本文对电容进行多余物检测实验，实验结果证明该方法能够有效检测出电子元器件的多余物，并且对噪声不敏感。
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