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在微流控芯片微通道中进行Raman及SERS测试时,可以获得较高的可重复性和较高的信噪比,但受微通道体积及常规微流控SERS检测模式下激发光作用范围小(光斑直径约为1-3um)的限制,微通道内激发光照射区域与纳米金属结构接触的样品分子数较少,从而导致SERS检测的灵敏度较低。本文提出在SERS检测区微通道中集成光学元件,使激发光的作用范围延长至检测区微通道全长,使检测区微通道中集成的所有的SERS增强介质及样品分子均可受到激发光的作用,以提高微流控SERS芯片检测的灵敏度。