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根据PLA电路结构的规整性和独特性,提出了一种末端倒置,纵向观测的逆向设计方案.此方案在保证故障检测覆盖率的情况下,不仅使用通用测试集,减少测试矢量数,还大大节约了附加硬件开销.文中从PLA的可测性设计现状入手,结合PLA电路的特点,逐步引出了新的设计方案,并阐明其工作过程.最后,就这种设计方案进行了故障测试分析和性能评估.