厚膜银导体银离子迁移的试验设计

来源 :第十六届全国混合集成电路学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:bj20089
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本文主要介绍了厚膜银导体上银离子迁移的试验方法、考核条件,通过试验发现,在660V/mm直流电场强度下,通过更换基片材料和介质材料,可有效抑制银离子的迁移,提高电路的可靠性,同时发现,在实际厚膜混合电路中,银离子迁移更多的是一种表面界面现象,与材料的表面界面性能关系密切。
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