有机发光器件具有自发光、高亮度、高效率、宽视角、响应速度快、色彩丰富、轻便，并且可以做成卷曲显示屏等诸多优点，已经成为当今显示器件研究的热门。如何提高器件的发光效率，始终是研究的重要课题。 有机发光器件的发光效率由众多因素决定，如载流子注入效率、载流子迁移率、激子形成和能级匹配等。电极表面功函数的高低，是影响载流子注入的关键因素，采用表面修饰来改变电极的表面功函数，以降低载流子注入的势垒，是提高器件电学性能和发光效率的有效方法。因此对电极表面功函数的测量以及研究具有重要的意义。 本文主要任务是设计一个表面功函数测量系统，可快速、准确测量有机发光器件电极表面功函数，并研究了表面处理对电极表面功函数以及有机发光器件性能的影响。 一、基于接触势差原理，对整个表面功函数测量系统可行性进行理论分析，通过理论计算分析了实际系统与理想系统的区别。 二、设计并组建表面功函数测量系统。该系统由信号发生单元、样品测试单元和信号检测单元组成。信号发生单元输出低频正弦信号使参考电极振动，调节样品测试单元的加载偏压使信号检测单元输出信号为零，通过计算加载偏压和标准参考电极的差值可得样品功函数值。 三、利用该系统测量UV-ozone处理后的ITO、Ag、SiO<,2>表面功函数，并且制备了底发射器件以及顶发射器件，来验证表面功函数测量系统的实用性与可靠性。 四、依据硬件电路抗干扰设计的原则，讨论了PCB电路板的设计与调试工作；并设计I-V-B测量系统外围电路，辅助设计有机发光器件I-V-B测量系统。