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本文提出了一种高精度的电子标签测试系统，能准确的测量电子标签的中心频率和品质因数，同时针对大多数检测设备无法测量有效容积的情况，提出了有效容积的检测方法。为了对标签进行频谱分析，系统设计了一个具有频谱分析功能的上位机界面。本文首先阐述了EAS系统的工作原理，对电子标签的内部结构进行了深入分析。在研究和对比了国内外的检测方法之后，采用了基于互感耦合理论的检测方法。系统主要包括模拟前端，数字基带信号处理，上位机界面三个部分。模拟前端主要包括传感器天线、信号源DDS、高频信号放大器。传感器天线是系统的关键，常见的传感器往往由于抗干扰性差而影响检测的精度。本文对天线的结构进行了改进，有效的减小了干扰。信号源DDS采用的高精度的DDS芯片，输出信号频率能精确到0.0291Hz。数字基带信号处理部分采用的是FPGA（EP2C70F672C8）作为核心处理芯片。由于系统检测的是1Mhz~15Mhz的电子标签，为了准确地对信号采样，采用的是125Msps的12位高精度AD芯片，实际中FPGA输出的是100Mhz的控制时钟，采样频率为100Msps。上位机和下位机通过串口进行数据传输，波特率为921600bit/s，接近1Mbit/s的速率，能满足实际应用中快速检测的需求。上位机采用的是Labview进行设计，能够有效的显示出所测标签的中心频率、品质因数、有效容积的值以及标签的频谱，给标签生产企业提供直观的信息反馈，指导标签的生产。目前市面上的EAS电子标签测试仪仅能检测标签的中心频率f和品质因数Q，中心频率f的误差为0.1Mhz，品质因数Q的误差为10%，无法检测有效容积Veff和进行频谱分析。本课题设计的电子标签检测系统中心频率f的误差小于0.01Mhz，品质因数Q的误差小于3%，能较准确的对有效容积Veff进行测量，能够对电子标签的频谱进行分析，测试系统在杭州美斯特公司的实际应用中性能稳定，检测效果良好。