电子散斑干涉技术(ESPI)是以激光技术、视频技术、计算机技术、图象处理技术、散斑干涉技术等相结合的一种现代光学测量技术,它具有全场、非接触、高精度等特点,被广泛应用于光学粗糙表面变形和位移测量,在无损检测方面也备受关注,其应用领域日渐拓宽。本文主要研究了散斑干涉测量技术及条纹图信息提取,其中对于散斑条纹的信息提取是利用散斑干涉技术进行光学测量的重要步骤。全文首先介绍了散斑干涉测量技术的发展概况及应用,然后介绍了散斑干涉测量原理、条纹图生成模式及处理方式,分析对比了三种条纹生成模式并利用相关模式生成了不含乘性噪声的条纹图,研究了条纹图的滤波技术,利用不同滤波算法对条纹图噪声进行了滤波效果对比,为后续的信息提取奠定了基础。研究了条纹中心法提取相位信息,重点研究了条纹骨架的提取,对细化方法进行了比较分析,结合两种细化方法进行了改进,有效提高了细化的速度和精度,利用改进的细化方法对变形测量实验获得的单幅散斑条纹图提取骨架线,并通过BP神经网络恢复了变形的相位场分布。利用相移法获取了试件变形的包裹相位图,对比分析了几种典型去包裹算法的相位展开效果,通过引进识别残差点的质量图去包裹算法,提高了相位展开精度,最终获得了试件变形的相位信息。通过对散斑条纹信息的有效提取,获得了试件变形的相位场,反映了试件的真实变形情况,进而求得位移或变形信息,提高了散斑干涉测量的精度和自动化程度。