近年来,随着微纳米技术的不断提升,以微纳米薄膜作为发声材料的热致发声器逐渐兴起,并被人们所熟知。相比于传统的依靠部件振动发声的电声换能器,氧化铟锡等薄膜热发声器具有无振动部件、体积小、重量轻及柔性等优点,这些特性可以改变车辆和飞机等载运工具上扬声器体积过大及布置受限的局面,也可以作为次级声源更好应用于载运工具的舱室噪声有源控制中。电-热-声模型和光-热-声模型是薄膜热声效应最主要的两个理论模型,然而这两个模型存在一些缺点与不足,限制了薄膜热声效应的应用领域。例如,在电-热-声模型中,导线和电极材料使薄膜扬声器输出声信号存在接触误差;在光-热-声模型中,需要高质量的可控光源,且薄膜与光源之间不能有障碍物,否则无法完成光-热-声之间的转换。为了进一步探究热致发声扬声器的性能并拓展其应用领域,本文基于优良导体在交变磁场下的涡流效应理论和固体的热声效应理论,选择导电层为微米级别的氧化铟锡薄膜作为发声器材,首先建立了氧化铟锡薄膜磁-热-声理论模型,进行了氧化铟锡薄膜声学理论计算;其次通过实验验证理论模型的准确性,并定量研究了氧化铟锡薄膜扬声器声压级（SPL）的可控参数;最后,对氧化铟锡薄膜的传热特性进行了研究与分析,推导出氧化铟锡薄膜表面瞬态温升表达式,搭建了温度测量实验平台,并将实验测量值与理论计算值进行对比,验证了传热模型的准确性,进而研究氧化铟锡薄膜产生声信号的机理——温度振荡。文中研究源自国家自然科学基金面上项目,主要工作及成果如下:（1）基于优良导体在磁场下的涡流效应理论、基底传热理论以及氧化铟锡薄膜热容的影响,建立了氧化铟锡薄膜的磁-热-声模型,推导出氧化铟锡薄膜的近场声压公式和远场声压公式。搭建了氧化铟锡薄膜声压测试的实验平台,对薄膜的输出声压进行了测试,将声压理论计算值与实验测试值进行对比分析,结果表明:氧化铟锡薄膜的理论计算值与实验测试值吻合良好,验证了薄膜磁-热-声理论模型的正确性;薄膜输出的声信号与涡流热功率呈线性关系;在远场中,薄膜的声压与测量距离存在反比关系。（2）在验证氧化铟锡薄膜磁-热-声理论模型准确的基础上,定量研究了线圈相关参数与薄膜声压级的关系、气体相关参数对薄膜声压级的影响以及氧化铟锡薄膜物理参数对系统性能的影响。研究结果表明:1)线圈匝数增加30匝,氧化输出声压级上升了约4.2dB;线圈横截面圆半径增大7mm,氧化铟锡薄膜输出声压级降低约3.6 dB;薄膜与线圈轴线中心距离增大9mm,氧化铟锡薄膜输出声压级降低约4 dB;2)氧化铟锡薄膜扬声器声压级与气体的恒压热容呈负相关,与气体的导热系数以及密度成正相关;3)当薄膜的厚度远小于磁场能达到薄膜的径向深度,即以趋肤深度作为边界条件,氧化铟锡薄膜扬声器的声压级随着薄膜厚度的增加而升高,薄膜的机械强度随着其厚度增加而提高,其使用寿命也会随之而提升。（3）建立了氧化铟锡薄膜磁-热-声效应的传热模型,考虑基底传热损耗以及空气自然对流等因素,推导出氧化铟锡薄膜表面瞬态温升公式和温度振荡公式,测试了不同面积氧化铟锡薄膜的瞬态温升,并采用间接的实验方法来验证氧化铟锡薄膜温度振荡的正确性。研究结果表明:氧化铟锡薄膜的稳态温度响应时间约为50s,起始时的环境温度对薄膜稳态温度有影响,两者近似成正相关,但对薄膜稳态温度响应时间没有影响;薄膜温度振荡理论值与间接实验测试值随频率变化吻合良好,验证了氧化铟锡薄膜传热模型的正确性;氧化铟锡薄膜的温度振荡值随频率呈上升趋势,从传热学的角度解释了为何氧化铟锡薄膜的输出声压在高频区间具有良好的幅频特性。