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随着激光技术的发展,各种功能晶体不断问世.众所周知:晶体的完整性对晶体功能的实现有着重要的影响.因此开展对功能晶体中缺陷的研究,了解其形成机制,对于生长高完整性功能晶体具有重要的指导意义.在这篇报告中,我们采用同步辐射形貌术结合光学显微术和其它分析技术观察和研究了功能晶体RTA,YbYAB,NGAB,Nd:YCOB晶体中的生长缺陷进行了系统研究.