X射线荧光光谱(XRF)中的粉末压片法作为快速、经济的制样方法，与熔融法相比，特别适用于批量分析或现场分析。但是，如果用粉末压片法制样，因为存在矿物效应而使分析结果往往与实际浓度有较大偏差，从而不能满足分析要求。本文对波长色散X射线荧光光谱粉末压片法中的矿物效应校正进行了研究。主要研究内容如下：　　 ⑴研究并采用了角度校正法校正矿物效应。角度校正法是在测量每个样品前(包括校正标样以及未知样)，对每个待测元素的2θ角度进行实际测量，以校正可能存在的角度偏移。受矿物效应影响，当元素存在于不同的矿物相中时，由于化合价，周围原子电负性，原子外层电子屏蔽效应等都不同，其特征线能量会相应发生改变，而在波长色散X射线荧光光谱中，特征线能量的改变就意味着测量谱线的2θ角度的改变，也就是分析线的测量角度会偏离它的理论角度。每次测量前，对2θ角度进行校正，一定程度上校正了矿物效应对定量分析结果的影响。以28个地质标样中8个主次量成份和10个铁矿石标样中的主次量成份作为研究对象，采用角度校正法后，和传统分析方法比较，校正曲线的K因子都得到不同程度的减小，尤其是铁矿石中S的校正曲线改善明显。　　 ⑵研究并采用了峰面积代替强度法来对矿物效应进行校正。这种方法(峰面积法)是用峰面积代替波长色散X射线荧光光谱普遍采用的峰强度，以校正由于峰形变化可能带来的影响。受矿物效应影响，如果同一元素在样品中以不同的相存在，则两个或多个2θ角度差别很小的峰会叠加在一起，将可能改变谱峰的形状，如峰位和峰宽等。用峰面积代替峰强度，校正了由于峰形变化可能带来的影响。以28个地质标样中8个主次量成份和10个铁矿石标样中的主、次量成分作为研究对象，采用峰面积代替法后，和传统分析方法比较，校正曲线的K因子也都有不同程度的减小对铁矿石而言，如果在角度校正法或峰面积法的基础上再进行基体校正，所有组分均可以满足分析要求。　　 ⑶利用这两种方法对海豹水泥厂的水泥生料中的主次量元素建立校正曲线，并用标准样品代替未知样进行分析，所有元素都满足了分析要求的需要。　　 ⑷通过本研究，为直接用粉末压片法进行XRF定量分析中的矿物效应校正提供了可能的有效方法。如果运用得当，将加快样品检测速度，降低检测成本，有利于痕量元素的分析，有利于高温挥发样品的检测，这对工矿业来说是非常有意义的。