液晶空间光调制器是光信息处理中的重要元件，利用它的振幅和位相调制特性可以实现各种光学变换和信息处理。但由于不同型号的液晶空间光调制器的调制特性，尤其是位相调制特性存在较大的差异，故在实际使用前均需加以测量后才能应用。因此，本论文针对以往测量液晶空间光调制器的位相调制特性的方法所存在的不足，提出了一种新的方法，即采用循环式径向剪切干涉术对液晶空间光调制器的位相调制特性进行了研究和测量。 本文采用了循环式径向剪切干涉仪对经液晶空间光调制后所产生的畸变波面进行放大和缩小后，使其在空间相遇产生干涉。为了准确求解波面，我们将其调制在一载频条纹上，利用傅立叶变换方法对条纹图进行处理后，解出干涉图所代表的波面。对此波面通过波前重建算法，即可求出原始的畸变波前。 利用上述处理方法，本文对液晶空间光调制器的位相调制特性进行了测量，从而了解了其位相调制特性随所加信号的变化情况和全场分布情况。除此之外，本文还利用中继成像系统，将两个液晶空间光调制器串联起来，通过一定的方法，可使其得以对准，并测量了其位相调制特性的变化情况，为实现液晶空间光调制器实现较大范围的位相调制提供了一种新的途径。