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随着现代军事工业科学技术的迅速发展,可靠性验证试验已经成为检验军工产品功能的必要环节。国内武器装备领域现阶段广泛应用的检验方法是环境应力筛选法。该方法的主要原理是对受试对象作用一定的激励,其内部的制造问题在激励的作用下会被激活,并且以故障的形式显现出来。然而,由于机电产品制造工艺水平的大幅度提升,现阶段广泛采用的环境应力筛选方法已经不能检测出产品中深层次的潜在缺陷。其中,单一的顺序载荷加载方式成为制约该方法的主要原因。为了解决这个问题,本论文分别研究了典型电子封装结构在热循环载荷、随机振动载荷以及热振耦合载荷作用下的疲劳寿命分析方法,现将本文的主要工作介绍如下:(1)计算热循环载荷加载条件下的疲劳寿命时,应用基于统一粘塑性理论的Anand本构方程,在Workbench的design modeler模块中建立塑料球栅阵列封装结构的有限元简化模型,对模型施加相应的温度循环载荷后得到焊点危险位置等效塑性应变的时间历程曲线,通过考虑热循环加载条件修正后的Coffin-Manson方程计算疲劳寿命。(2)计算随机振动载荷加载条件下的疲劳寿命时,首先在Workbench的design modeler模块中建立塑料球栅阵列封装结构的有限元简化模型,将建立完成的模型导入到Ansys的经典界面中进行分析。分别考虑在常温、低温、高温环境下的随机振动问题,施加随机振动载荷后提取焊点危险位置的应变PSD响应曲线,通过Matlab中的傅里叶逆变换指令得到应变的时间历程曲线,应用雨流计数法统计出应变分布范围,运用以应变为基础的Manson-Coffin方程计算每一应变范围对应的疲劳寿命,根据Miner线性疲劳累积损伤理论得到损伤值,进而得出疲劳寿命。(3)计算热振耦合加载条件下的疲劳寿命时,首先得到热循环加载条件下的损伤值与随机振动加载条件下分别在常温、低温、高温环境中的损伤值,再应用递增的损伤计算方法得到热振耦合加载条件下的疲劳寿命值,并对其结果进行分析。(4)将上述疲劳寿命的计算方法应用于某电子封装结构上,计算该电子封装结构分别在热循环载荷、随机振动载荷以及热振耦合加载条件下的疲劳寿命。本论文的研究成果可以对高加速应力筛选试验项目的设计方案以及热振耦合加载条件下结构疲劳寿命的理论研究提供一定的参考。