假劣集成电路芯片呈现出越来越泛滥的趋势,危害各行各业。不仅给集成电路产业带来极大的经济损失,还给稳定性要求高的行业譬如航天军事行业造成极大的安全隐患。现有的假劣集成电路芯片检测技术并不成熟,一些方法费时费力不适合检测大量芯片,一些方法效果单一无法检测更多类别的假劣集成电路芯片。本论文研究的检测方案最终目的是更高效便捷地检测出更多种类的假劣集成电路芯片。包括未经授权生产的芯片、经授权但性能不达标的芯片、回收翻新的芯片、重新打磨封装打标的假冒芯片。该技术方案涉及到内嵌在芯片内部的检测电路、控制信息读写的通信机、存储芯片ID等信息的数据库。被测芯片通过通信机和数据库互联,数据库中存放着每一片正版芯片对应的信息。通信机从被测芯片中读出ID信息和芯片寿命信息,与数据库中的信息作比较,判断芯片的真伪性。验证芯片ID可以检测出未经授权的芯片;验证芯片封装和打标信息可以检测出非法打标封装的芯片;验证芯片的寿命参数值可以检测出翻新的旧芯片。本检测方案的核心——内嵌电路由三个部分构成,用于存放ID信息的反熔丝存储单元、DES加密电路、记录寿命信息的环形振荡电路。论文的工作包括完成系统架构设计、存储单元的设计、DES加密电路和环形振荡器的电路设计,在硬件开发板上完成内嵌电路的功能测试。本检测方案通过验证芯片ID、封装和打标信息以及寿命就可以鉴别出芯片的真伪性,相较于当下的同类研究具有全面性和实用性。本检测方案的研究对遏制假劣集成电路芯片的泛滥具有重要意义。