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在气体绝缘开关设备(GIS)中,绝缘子表面气-固交界面处是绝缘强度较为薄弱的部分。因此,对绝缘材料气-固交界面处绝缘特性的研究就变得非常重要。绝缘子表面积聚电荷是影响其绝缘强度的一个重要因素。积聚的电荷会改变绝缘子表面局部电场的分布,造成绝缘子沿面闪络电压下降,从而可能导致绝缘子表面处发生局部放电现象,当积聚电荷数量较多时,在电场作用下有可能在绝缘介质表面形成导电通道,从而造成绝缘子沿面闪络。为了研究绝缘子表面电荷积聚机理及其抑制措施,就必须首先对绝缘子表面积聚电荷进行准确测量。在高压测试