基于线阵CCD的非接触尺寸测量研究

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在非接触测量系统中线阵CCD技术的应用十分广泛,但专业的线阵CCD测量设备和实验仪器非常昂贵,这样就有了自制测量系统的需求。测量系统的核心部分是线阵CCD芯片的驱动,线阵CCD芯片的驱动方法有很多种。但以往的驱动方案移植性不好,当测量条件或测量要求改变时,需要更换线阵CCD芯片,这样驱动电路就要重新设计,非常浪费人力和物力。本课题针对以上问题进行了研究。这里研究和分析了各种硬件工具和软件工具,权衡利弊以后,选用的硬件工具是FPGA/CPLD,上位机软件工具是C#编程环境。在此基础上,设计了一种线阵CCD非接触测量系统,并给出了一种移植性好的线阵CCD驱动方案。采用Altera公司CycloneⅡ系列FPGA芯片EP2C8Q208C8N对东芝公司的TCD1209D线阵CCD芯片进行了驱动,硬件描述语言采用的是Verilog语言,经过modelsim验证和硬件实验证明了方案的可行性。之后对驱动程序稍作修改后,采用Altera公司MAXⅡ系列的CPLD芯片EPM240对东芝公司的线阵CCD芯片TCD1304AP进行了驱动,同样经过modelsim验证和硬件实验证明了方案的可行性。这样就证实了该驱动方案的可移植性。之后利用C#语言制作上位机软件,测量系统制作完成后,进行了平行光成像法测径的方案实现、缩小成像测量法测径的方案实现和缩小成像测量法测角的方案实现。实验测试结果证明了此方案的可行性。
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