半导体光放大器自动测试系统

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随着通信技术的不断发展,光通信行业遇到了前所未有的发展机遇。在光器件需求不断扩大,产业规模逐步扩张的大环境下,国内厂商需要尽快解决元器件的大批量生产中遇到的相关问题。其中一个重要的问题就是元器件产品的指标测试,传统的测试方法是针对元器件的每个指标,集成所需要的仪器,然后连接好仪器,搭建好光路,手工测试该指标,在需要测试下一指标时,往往需要重新连接仪器,重新搭建光路,费时且精度较差。本文工作是863项目“高性能半导体光放大器规模化生产技术”的重要内容,研制了一套半导体光放大器自动测试系统,该系统利用GPIB(General Purpose Interface Bus)接口进行通信,实现计算机对各种测试仪器的实时控制,完成对半导体光放大器组件各项指标的自动测试,并由计算机自动处理数据。本文详细分析了GPIB接口的通信原理和控制过程,详细阐述了测试系统的硬件构成和软件构成,并将测试结果与人工测试结果做出对比,具有较高的一致性。该系统界面简单友好,只需填写一些基本参数并选择测试项目即可测量,非专业人士也可熟练使用。由于一次性连接好仪器和光路后就不需要人工干预,最大程度的减少了人为误差,同时节约了人力消耗。该系统的通用型和扩展性强,通过加载不同的仪器库,可以测试各种光器件,极具推广价值和实用价值。
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