在计算机图形学中，使用具有高真实感的材质，对于渲染出高质量的图像是至关重要的。通过测量得到的材质可以满足这一要求，但是由于测量装置复杂，对实验环境要求很高，需要耗费大量的人力物力，因此不利于推广使用。基于图像的绘制技术(IBR)近年来逐渐成为传统图形学绘制方法的一种补充。在材质属性的估计方面，因为图像上的每个像素都具有不同的入射和出射方向，包含的信息很丰富，所以可以利用一系列输入图像，将它们应用到特定的BRDF模型上，通过求解模型参数来得到材质的反射属性。通过这种方法得到的材质数据，虽然没有非常精确，但是完全可以满足一些实际应用。　　本文的研究对象是各向异性的近乎平面的单一材质，空间变化的材质可以作为单一材质的延伸。系统的输入图像有两张，其中一张为漫反射图，另一张为高光反射图。首先，将漫反射图和高光反射图分别分解得到各自的反射图和光照图。接着利用漫反射图计算材质的方向场，从而得到材质的结构。然后我们建立Ashikhmin-Shirley反射模型，利用高光反射图的光照图及方向场信息来求解模型参数。最后，利用模型参数来计算材质的高度场，以得到材质表面高度的细微变化。我们为每个像素定义了一个特征向量，并用特征向量定义像素间的距离，然后以每个像素的k最近邻为约束条件，将其用到图像分解、方向场计算、高度场计算中。利用漫反射图分解得到的反射图、方向场、高度场信息及模型参数，可以绘制不同视角不同光照条件下的图像，模拟出具有一定真实感的材质效果。