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根据电阻值的大小不同,我们有很多种测量电阻的方法。但是,在测量微电阻时,常用的测量小电阻的开尔文电桥就无法满足要求,所以需要一种测量微电阻的系统。在需要测量高温下的电阻值时,我们一般选用热电偶。这是因为热电偶的结构简单、测温范围广(低至负180℃,高至1800℃)、耐高温、准确度高、价格便宜、使用方便、适于远距离测量与自动控制。在高温高精度电阻测量中,我们利用Keithley2182纳伏表监测温度和电压,利用PF66M型数字多用表监测电流和提供电流。结合RS232串口,利用基于Delphi的SPComm串口通信控件,我们就可以实现计算机与电阻测量系统之间的通讯。为了提高测量的精度,我们还需要使用四线测量法和反向电流法。反向电流法是为了消除电阻测量中的热电势。PF66M数字多用表提供电流,我们使用一组继电器实现直流电路电流反向。为了解决使用电流反向法必须要限制采样间隔的问题,我们对继电器实施定时控制,在编程中使用Delphi中的时钟控件(timer),每4秒钟执行一次程序。4秒钟的时间间隔可以满足电流反向消除热电势的要求。利用高温高精度电阻测量系统及其数据采集系统,我们持续10~12小时测试了Fe、Cu、Al在常温下的电阻值,由电阻值的变化,我们认为系统具有很好的稳定性。在电阻测量中,我们用电流反向法消除了杂散热电势的影响,为了更加全面的分析Fe78Si9B13非晶合金晶化过程中的结构变化,我们利用逆向思维,分析了Fe78Si9B13非晶合金在晶化过程中的杂散热电势的变化规律。并且进一步的测量了Cu与Fe78Si9B13组成的热电偶的热电势,通过分析,我们发现,杂散热电势和热电偶的接触电势在随温度升高的过程中都出现突变,这个突变对应于Fe78Si9B13非晶合金的晶化。液态和非晶态结构研究,一般需要将电阻曲线或者衍射强度进行平滑,为了使用具有强大平滑功能的MyXray程序处理由高温高精度电阻测量系统和X射线衍射仪采集的数据,我们设计了一种可以将数据格式转换为MyXray适用的数据格式转换软件。