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MEMS 动态测试技术,因其能够测试 MEMS 三维运动,分析 MEMS 动态特性、材料特性以及机械力学参数等关键数据,已成为 MEMS 测试技术的重要组成部分。而研究如何在 MEMS 运动过程中记录瞬间运动状态,并恢复 MEMS 表面的离面运动历程,则是 MEMS 动态测试技术实现离面运动测量的关键,因而必须解决。 本文在充分调研的基础上,结合频闪成像技术和相移显微干涉技术,建立了