NoC因其可靠性高和可扩展性好等优点,已经被研究的越来越多。集成电路的测试伴随着芯片的设计、验证、生产和后期维护等整个生命周期。在NoC中,IP核通过路由器来相互通信。对于IP核的测试,一种通用的做法是复用已有的NoC通信架构来传输测试数据。但是在复用NoC架构作为测试访问机制对内嵌核测试时,如果有多个I/O接口并行测试时就容易发生资源的冲突。同时,在很多测试方法中,测试路径的建立以及测试响应的收集等在网络接口(NI, network interface)中实现。但作为NoC的重要组成部分,关于NI的可靠性研究却往往被忽略。因此,本课题针对以上问题,分别从并行测试调度和NI可靠性两方面展开研究。论文主要工作如下：(1)为了解决多区域并行测试的资源冲突问题,提出一种无链路冲突的测试调度方法。首先使用分区算法将网络划分多个区域,然后使用链路分配算法对节点建立路径树来查找可连通路径,最后全局考虑各个区域的连通路径来分配链路使所有区域都连通,从而避免资源冲突、减少测试时间、保证测试可靠性。实验结果表明,相对于基准对象,该方法可减少测试时间14.13%～52.62%,相比于已有算法,测试时间最多减少了16.42%,是一种较优的无冲突测试调度方法。(2)针对NI的可靠性以及可能的数据包乱序问题。本文提出一种支持重排序的高可靠NI设计。首先通过在NI发送端和接收端都使用双虚通道设计,达到与路由器高效互连的目的,同时增加了NI可靠性。其次,设计一种新的重排序方法,对重排序buffer使用一种链式查找表的方式实现对乱序数据包的高效重排序,同时增加了buffer的利用率。