基于兰州重离子研究装置HIRFL-CSR的等时性质量测量谱仪已被成功地用来测量寿命短至几十微秒奇异核素的质量,并取得了一批具有重大意义的实验成果。TOF探测器系统是质量谱仪重要的实验装置,它记录离子在CSRe内的回旋时间信息。在之前的实验中,每当过多的次级离子被注入到CSRe时,就会导致TOF探测器的探测效率下降和输出信号幅度减小,并影响到后续的数据分析处理。我们分析得知,这是由TOF探测器系统中的微通道板的饱和效应而造成的,并依据HIRFL-CSR的Kicker(踢轨)系统工作原理,提出并测试了一种基于离子速度纯化筛选次级束的方法。该方法通过降低被注入到CSRe内的次级束中A=2Z离子的比例,以减轻TOF探测器系统的工作负担。测试之前,我们用LISE++模拟并计算了束流线长度L、CSRe的γt、初级束团纵向长度σ对于测试结果的影响,并最终发现σ是决定实验成败的关键因素。为此,我们利用等时性质量谱仪首次测量了从CSRm快引初级束团的纵向长度(~45ns),并依此评估了纯化次级束流方案有一定的可行性,同时给加速器研究提供了重要的参数(束流长度)。测试过程中,我们改变CSRe的Kicker工作“窗口”相对于次级束产生时刻的时间间隔?t,以考察对注入到CSRe内次级束成分的影响。通过数据分析可知,随着?t的增加,次级束中A=2Z的核的比例由最高的11.5%下降到2%,证明了基于离子速度纯化次级束的可行性,并为以后的相关实验提供了参考依据。