论文部分内容阅读
CMOS图像传感器具有集成度高、功耗低、抗辐射能力强等优点,在空间领域具有极大应用潜力。由于空间辐射环境特殊性及其高能粒子和射线对CMOS图像感器辐射,会导致器件加速老化,产生坏点,从而影响光斑识别、定位,严重时会导致通信链路失败。CMOS图像传感器中的坏点,通常是由以下两方面原因造成,一是由制造工艺造成。二是由空间环境对CMOS图像感感器辐射,使CMOS图像传感器器件老化产生坏点,从而对光斑质心定位精度产生影响。本论文是针对应用于卫星光通信的CMOS图像传感器,受空间辐射产生灰度值为255的坏点条件下,进行了以下几方面的研究:空间辐射环境及其对CMOS图像传感器影响的研究。这部分研究内容主要包括四方面:1.介绍空间辐射环境。2.分析空间辐射环境使CMOS图像传感器加速老化的原因,这部分内容主要是从CMOS图像传感器的两个核心器件光电二极管和MOSFET出发,对其参数受空间辐射影响进行分析。3.建立了CMOS图像传感器中的坏点影响光斑质心定位误差计算的数学模型。4.介绍了可应用于空间的图像去噪方法及其基本原理。MSG(Modifying Single Gray Value)算法及仿真。这部分研究内容主要包括两方面:1. MSG算法提出的理论基础和流程图。2.通过静态实验首先对传统图像处理方法中的中值滤波、均值滤波、加权均值滤波在图像去噪方面进行比较,然后选取去噪效果最好的中值滤波与MSG算法进行去噪效果比较。通过仿真实验对传统图像处理方法在图像去噪方面进行对比,然后用效果最好的中值滤波和MSG算法在图像去噪和光斑质心误差方面进行对比。通过动态模拟实验,验证MSG(Modifying Single Gray Value)算法在光斑图像去噪和光斑质心误差修正的有效性。这部分内容主要通过LABVIEW实验验证平台,模拟空间环境背景下CMOS图像传感器出现坏点,然后,分别用中值滤波算法和MSG算法对光斑图像去噪后,进行光斑质心误差修正对比。本文以空间辐射环境对CMOS图像传感器辐射产生坏点噪声为研究背景,验证MSG算法有效性,使得光斑图像中有坏点,扔能保持一定精度,提高了终端的可靠性和寿命。