功率放大器芯片在现代通讯中运用相当广泛,对于功率放大器芯片的可靠性测试,尤其是寿命测试显得越来越重要。军用的功率放大器芯片可靠性要求更加严格,每款功率放大器芯片都要在极端条件下进行长时间的可靠性寿命验证。传统的可靠性测试依靠人工记录与监测,需要消耗大量的劳动力并且无法保证数据的准确性与及时性,不适用与长时间的寿命试验。为了达到监测数据的准确与及时,一套高效的自动化监测系统成为迫在眉睫的需求。本文基于C#语言,为自主研发的功率放大器芯片设计了一套电流自动监测系统。针对芯片的试验条件与测试需求,运用PCB板、多种通信总线、芯片夹具、环境设备以及各种测试设备搭建测试平台。结合虚拟仪器软件结构、SCPI指令、虚拟仪器技术、关系型数据库、动态WEB应用技术以及窗体应用技术开发测试程序。使用面向对象和接口的方式编程,能够匹配多种型号的试验仪器,达到高内聚低耦合的效果,同时运用三层软件架构和MVC设计模式,使代码通用性很高,并且易于扩展和维护。程序设计为多线程模式,保证了操作流畅度,部分地方使用了单例模式,有效地保留程序运行中的数据。该系统实现了试验数据自动记录与分析,并随时随地可查看,试验仪器一键设置,试验结果图形化展示。本文对抽样芯片进行了三个长时间的高温寿命试验,经过检验该电流监测系统拥有实时性好、准确性高、操作简单以及数据查看方便等优点。