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[目的]本研究探讨二硅酸锂陶瓷厚度及制作方法对其半透性和色彩的影响,为临床全瓷美学修复的设计和制作提供参考。[方法]分别使用失蜡热压铸造和切削加工的方法,制作HTA2色系的二硅酸锂陶瓷(IPS e.max Press ingot)直径10mmm的圆盘状试件,和半烧结的预成二硅酸锂(IPS e.max CAD)长宽为12.6mm×10mm的长方形试件,经二次烧结后形成,厚度不等(0.3±0.02mm、0.5±0.02mm、0.7±0.02mm、0.9±0.02mm、1.1±0.02mm、 1.3±0.02mm),每种厚度各5个试件。使用碳化硅砂纸逐级将试件双面打磨抛光至5000目,超声清洗,干燥后,使用CM-700d分光测色计和TM-2透光率测试系统测定各试件色彩参数L*、a*、b*值及380-780 nm的可见光积分透射比τ值。计算各试件的半透性参数TP,比较两种制作工艺试件间的色差AE,使用A2色系的表面饰瓷(IPS e.max Ceram)分别在上述试件上堆塑饰瓷,烧结成型后,使用碳化硅砂纸将饰瓷面磨抛至5000目,使各试件最终厚度均为(1.5±0.02)mm,超声清洗、干燥后,测定其色彩参数L*、a*、b*值及可见光积分透射比τ值,计算各试件的半透性参数TP,各组组间的色差△E。同法,记录总厚度为(1.3±0.02) mm、(1.1±0.02) mm、(0.9±0.02) mm、(0.7±0.02) mm、 (0.5±0.02) mm的双层瓷试件的L*、a*、b*、τ、TP值及AE。采用SPSS19.0统计软件对所得结果进行相关性分析、ANOVA方差分析及Turkey’s多重检验(α=0.05)。[结果]1.制作方法对二硅酸锂陶瓷光学性能的影响。对于二硅酸锂单层瓷试件来说,L*、a*、TP及τ值均受制作方法的影响(p<0.05)；b*值不受制作方法的影响(p=0.156)。IPS e.max CAD试件的TP及τ值较高；较薄时(厚度≤0.7mm),不同制作方法的试件间明度无差异,较厚(厚度>0.9mm)时,IPS e.max CAD试件L*值较低；除0.5mm厚度外,IPS e.max CAD试件的a*值均高于IPS e.max press试件。各厚度下,制作方法引起的色差△E均小于2.6。对于以二硅酸锂为核瓷的双层瓷试件来说,L*、a*、b*值受制作方法影响(p<0.05),TP及τ值不受制作方法影响(p=0.210,0.739)。各厚度下,制作方法引起的色差△E均不大于2.6。2. 厚度对二硅酸锂全瓷修复体光学性能的影响。对于二硅酸锂单层瓷试件来说,随厚度增加,其L*值、TP值、τ值降低,即明度和半透性均降低。厚度从0.3mm增加至0.5mm时,a*、b*值呈增加趋势；厚度从0.7mm增加至1.3mm时,a*、b*值呈降低趋势。对于以二硅酸锂为核瓷的双层瓷试件来说,随核瓷厚度增加,试件L*值、a*值、b*值、TP值、τ值均呈降低趋势,即明度和半透性降低,色彩偏向绿蓝；随饰瓷厚度增加,试件L*值、TP值、τ值呈降低趋势,a*值、b*值呈增加趋势,即明度和半透性降低,色彩偏向红黄。[结论]1.切削加工比热压铸造的二硅酸锂陶瓷的半透性大,烧结饰瓷后,试件整体的半透性不受核瓷制作方法的影响,即饰瓷的烧结可掩盖核瓷制作方法引起的半透性差异。由制作方法引起的颜色差异在口内环境中肉眼难以辨认(AE≤2.6)。2.无论切削加工还是热压铸造的二硅酸锂陶瓷,其明度和半透性随厚度增加而降低；烧结饰瓷后,随饰瓷厚度增加,试件的明度和半透性降低,色彩偏向红黄,随核瓷厚度增加,试件的明度和半透性降低,色彩偏向绿蓝。