红外焦平面阵列(IRFPA)技术是发展二代热像仪的关键。十几年来，世界技术先进的国家，不惜耗费巨资开展研究，取得了令人瞩目的成就。随着IRFPA的不断发展，要求使用高精度的仪器测量集成FPA的各项性能参数。 MTF是用于系统设计、分析和规范的重要参数。焦平面阵列的MTF表征了热像仪的MTF。本论文针对带片上TDI的288×4HgCdTeIRFPA探测器，研究MTF的测试技术。这对填补我国IRFPA测试技术的空白，IRFPA的设计、研制，以及红外热像仪整机的评价具有重要意义。 本文各章内容如下： 第一章介绍了IRFPA的现状、发展及应用；IRFPA MTF测试技术的现状，阐述了本论文所做的工作。 第二章从MTF的物理意义出发，首先研究了IRFPA MTF的测试原理，具体分析了IRFPA MTF的主要测试方法，讨论了适用于本项目的刀口测试法；其次，从目标衍射和串音干扰两个方面分析了测试系统的衍射现象；最后讨论了减小统计误差的MTF计算方法。 第三章详细介绍了288×4HgCdTe IRFPA MTF测试系统，分析了红外光学系统、机械扫描结构、信号处理模块，以及测试调试软件和信号处理与分析测试软件设计情况。 第四章介绍了测试系统的调试结果并做了简单分析；从理论上简单预测了MTF系统可能的测试结果。 第五章对论文的工作进行了总结，指出有待进一步研究的问题。