线结构光作为一种非接触式的测量方法,涵盖了激光测量技术,机电技术和数字图像处理技术,它作为一种非接触式测量手段得到了广泛的应用和迅速的发展。电子产品的使用寿命是现在研究的重点课题,其关键性问题就在于如何提高元件的生产精度。目前计算机使用的主要是机械硬盘,如果硬盘底座的参数出现了偏差,将极大的影响原件的安装牢靠度,降低硬盘的使用寿命。接触式测量是现阶段对硬盘底座圆孔参数进行测量的主要方法,但此方法会对硬盘底座表面产生划伤,所以急需一种非接触的测量方法。在总结了现有的非接触测量方法的基础上,为达到对硬盘底座圆孔测量精度的要求,论文对基于线结构光视觉传感器的孔径测量研究的相关技术进行了研究,有效的实现了工业生产对圆孔参数精度的要求。论文以硬盘底座作为研究对象,采用线结构光视觉测量方法对底座圆孔进行孔径测量,首先搭建了由激光发射器、摄像机和二维位移平台组成的基于三角激光测量原理的光视觉传感器测量平台;其次针对消除硬盘底座圆孔周围强反射面的问题进行了研究,提出了基于分数阶微分消除强反射面影响的方法,有效的消除了强反射区对圆孔测量精度的影响;最后对没有强反射影响的圆孔图像进行边缘提取,并对其进行孔径测量和误差分析,完成了对硬盘底座圆孔的孔径测量。经实验验证,通过对图像处理算法进行完善,改进测量技术,本文算法与其他算法相比,在保证精确提取孔径边缘的基础上,对圆孔周围的强反射面进行了抑制,在对硬盘底座圆孔进行孔径测量时误差可控制在±0.05mm左右,保证了测量精度,能够满足硬盘圆孔的生产要求。