论文部分内容阅读
MEMS动态测试技术是MEMS测试技术的重要组成部分,是目前国内外的研究热点之一。常用的MEMS动态测试系统多基于光学干涉技术或激光多普勒技术,光学干涉技术中的频闪成像技术有着测量范围广、测量精度高等突出优点,因此应用最为广泛。相移显微干涉技术是目前常用的MEMS器件离面运动测试技术,如何将其与频闪成像技术结合,完成MEMS器件面内和离面运动的一体化测试,是MEMS动态测试技术发展过程中亟待解决的问题。本文结合频闪成像技术和相移显微干涉技术,提出了利用相移干涉图像得到亮场图像的最优化干涉相消