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随着半导体行业和测试行业的快速发展，各种新工艺和新设计的集成电路不断出现，在大量新型数字集成芯片投放市场的同时，对其功能和性能的完整性要求也在不断提高。为了迎合对数字芯片进行检测的需求，数字集成电路测试仪应运而生。它在验证测试、生产测试、验收测试和使用测试中都拥有无可替代的地位。然而国内大部分测试市场被国外的测试企业占据，购买国外的测试设备一般价格都比较昂贵，随着数字集成芯片的使用日益频繁，急需一种能够应用在中小规模数字集成电路的测试设备来保障其功能和性能。本设计顺应高校实验室的测试需求，在现有资源——吉林大学自主研发的虚拟电子测量仪器集成系统（Virtual Instrument Integration System for ElectronicMeasuring，简写为VIIS-EM）的基础上，实现了数字集成电路测试技术的集成。按照VIIS-EM总线的技术标准和模块化仪器的设计思想，在开发仪器时采用标准的3U尺寸进行板卡设计，3U的标准尺寸为100mm×160mm（3.94英寸×6.3英寸），并以“微处理器+FPGA”的架构进行硬件模块搭建，上位机采用美国国家仪器公司（National Instrument，简写为NI）的图形化编程软件LabVIEW（全称为：Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench）进行实时地控制和显示，LabVIEW采用数据流的编程方式，结合丰富形象的控件和函数资源，使其对仪器的控制和程序的调试更加方便快捷。系统研制目标针对功能测试和直流参数测试，这两种测试种类也是保证数字集成芯片（Digital Instrument Circuits，简写为DIC）功能和性能完整性的重要理论依据。设计中应用外部数据库管理的方式进行芯片资料的归纳，在仪器运行时，可通过调用相应数据库的表名称来加载实验信息，并完成自动化功能与性能测试，实现了快速、准确的检测目的。在研制完成后，通过具体实验对数字集成芯片进行了分类测试，并给出了测试结果。实验结果表明采用VIIS-EM系统开发的数字集成电路测试仪能够达到对中小规模数字集成电路快速、准确检测的目的，同时在很大程度上节约了成本，具有一定的实用价值和推广价值。