浮点单元是微处理器的一个核心单元之一。近年来，浮点数在高精度数字计算中被普遍使用，并且随着数字信号处理和图像处理等精度、实时性要求的需求增长，其应用范围也越来越广。IEEE 754标准是目前使用最广泛的浮点算法标准，它规定了符合该标准所需的浮点数的格式、精度、算术操作以及近似处理、异常处理等。浮点单元设计验证包括两个方面的工作，指令系统验证和数据运算精度验证。浮点单元的运算精度越来越高，验证的向量空间越来越大，测试越来越复杂，已经到了在一代处理器产品生命期内，无法对所有事例进行验证的程度。 本文首先介绍了课题的背景以及国内外相关领域的发展历史和现状，然后对验证方法学做了简要的梳理与归纳，并对IEEE 754标准作了深入分析。在验证方法学和设计规范的基础上，针对一款实际的浮点单元芯片制定了验证方案并得以实现。由于边界点测试的重要性，文中用一章的篇幅来论述边界点测试生成方法的提出以及实验。