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局灶性皮质发育不良(Focal cortical dysplasia,FCD)是一种典型的大脑皮质结构发育畸形,是导致药物难治性癫痫的常见病因。自1971年Taylor首次报道以来,局灶性皮质发育不良疾病随着其愈发增高的发现率而受到广泛关注。目前在局灶性皮质发育不良疾病的临床诊断中,由于某些患者大脑皮层结构的异常信号在磁共振影像中非常微弱,从而使得很难确诊和易漏诊FCD。依靠传统磁共振检查诊断局灶性皮质发育不良仍然是一个挑战。在此背景下,国外学者提出了多种FCD脑结构影像分析方法。其中,基于体素的形态学测量方法能够对大脑结构磁共振影像进行分析,是客观评价全脑灰质、白质病变的一种重要方法,目前已收到众多学者关注。本论文在基于体素的形态学测量法基础上,开展了VBM-DARTEL方法研究和基于体素的形态学分析流程法(Morphometric analysis program,MAP)研究。针对FCD患者组建立了基于VBM-DARTEL的FCD脑灰质异常检测方法,检测到FCD患者组致痫灶存在的常见脑区;另一方面,在FCD个体诊断方面,本文分析了I型FCD患者的结构磁共振影像数据,将微弱的脑灰白质分界模糊等异常影像特征可视化,为FCD的临床诊断和术前评估提供了辅助工具。首先我们建立了一种基于VBM-DARTEL的FCD脑灰质异常检测方法。该方法包括对磁共振结构像进行图像分割、DARTEL模板制作和图像标准化等,最后使用双样本独立t检验统计分析患者组和对照组全脑灰质体积的差异,从而得到FCD脑灰质的病变特征。与正常对照组相比,FCD患者组双侧大脑半球存在广泛脑区的灰质体积异常;FCD患者的脑灰质存在萎缩,并伴有灰质体积异常增大的脑区,且多集中在额叶和颞叶等区域。我们还对I型FCD患者T2压水像应用形态学分析流程法,并在阈值计算方面对MAP方法提出改进以得到每个患者的特征映射图,即脑灰白质连接映射图和脑灰质伸展映射图。通过与患者的术前磁共振影像对比发现,这两个特征映射图可以更敏感地显示出病灶脑区。此外,脑灰白质连接映射图比脑灰质伸展映射图敏感度更高。总之,MAP方法能够提高磁共振检查对I型FCD的诊断敏感性和检出率,降低漏诊率,对临床FCD诊断和切除术具有重要的辅助和指导意义。