重离子核微孔膜是（以下简称核微孔膜）是应用核技术生产的一种径迹蚀刻膜（Track-etched membranes，TEM），属于筛孔型薄膜精滤介质。核微孔膜上具有核径迹所形成的微米级的微孔，这些微孔是由核设施进行加工所形成的。一般而言，多采用反应堆或者加速器辐照而成。核微孔膜的制备由几个独立的步骤组成：重离子的辐照加工、敏化及化学蚀刻。本论文研制的核微孔膜是在中国原子能科学研究院下属核物理研究所的HI-13静电串列加速器平台上制备的。由于在核微孔膜的生产过程中，膜的辐照是其生产工艺的关键，辐照工序决定了核孔的密度分布状况，直接影响核微孔膜的质量。因此，准确掌握核微孔膜真实的被辐照强度及其辐照后核孔密度分布的均匀性具有现实意义，不仅能够提高核微孔膜的生产质量，同时能让工作人员及时了解辐照情况，减轻工作量，减少了时间的浪费，节约了辐照成本。本文详细地介绍了针对HI-13静电串列加速器L70°辐照设备所开发的重离子辐照核微孔膜监视系统的研制思路、制作过程以及测试结果。创新性地采取了膜后测量方式，当重离子束流穿过薄膜后打到法拉第筒探测器上，会产生正比于束流强度的电流信号，将该电流信号经过I-V转换器进行电流放大并转换成电压信号后，由虚拟仪器测试系统进行信号采集并输出显示。此外，还将探测器进行了排布，测量多点的束流强度，能够同时观测核微孔膜上中下的被辐照量，较好地反应出其辐照后核孔密度分布的均匀性。在探测器方面，本论文采用了改良式的法拉第筒探测器，即运用法拉第筒探测器的工作原理同时结合电子倍增器件的工作机制，制作成片状式法拉第筒探测器。虚拟仪器测试系统则是利用多通道数据采集卡和美国NI公司开发的LabWindows/CVI软件平台，实现同时对多路信号进行实时数据采集并显示输出。经过实验证明，本论文研制的重离子辐照核微孔膜监视系统在真空度保持一致的情况下，所得的测量数据与其核孔密度值能保持相对稳定的正比关系，验证了该测量系统的可行性以及实用性。