由于电子工业的技术水平不断提升,电子电路的集成度不断上升,传统的模拟电路技术被数模混合电路技术所取代已经成为一种趋势。将模拟电路和数字电路集成在同一块电路板上,固然能够在减少电路板的尺寸与成本的同时,提高电路性能,也给测试电路状态及性能带来了新的挑战。在此背景下,出于提高电子系统可维护性与可靠性的考虑,应当在系统设计阶段就考虑可测试性问题。为解决数模混合电路难以将模拟信号与数字信号统一在同一个数学框架的问题,本文提出离散事件系统(Discrete Event System)理论来对数模混合电路进行建模,并在建模结果的基础上,研究电路测试策略优化算法,通过算法生成平均测试代价最小的测试序列来对电路进行故障诊断。本文的主要研究内容如下:1.介绍了基于DES理论的电路故障诊断数学模型,并描述了基于电路模式与影响分析的DES模型参数分析方法,包括对故障模式的分类、获取及适用性分析,以及通过Saber软件进行故障建模和故障注入,最后通过某数模混合电路对DES模型建立进行实例分析。2.在DES模型基础上研究测试策略优化问题。对于解决这一问题常用的启发式搜索AO*算法,启发函数能决定该算法的测试结果与计算效率,本文在介绍其常用的基于霍夫曼编码的启发函数后,提出在传统信息熵基础上改进的测试信息熵的启发函数,同时为了减少冗余搜索,提出了结合测试信息熵与动态规划的启发式搜索算法,并通过实验验证其有效性。3.在工程实践中DES模型的参量会发生变化,然而重新生成事件序列,建立故障诊断树所需时间过长,为避免这一问题本文提出对已生成的故障诊断树进行部分调整的算法,能够有效提高生成新故障树的效率。4.完成了对测试策略自动生成软件的设计与实现。软件主要分为信息提取与分析、测试策略生成以及结果分析与显示这三大模块,最后通过某数模混合电路作为实例对该软件功能进行了验证。