陶瓷插针是光纤连接器的关键元件,其制造精度高,同轴度误差要求不高于0.5μm,相应的检测系统测量精度也很高。目前在国内外的陶瓷插针生产中,主要用到的陶瓷插针同轴度检测系统有显微放大测量系统、光学干涉显微测量系统以及传感器测量系统。这些测量系统均为国外的技术和设备。本文根据目前国内陶瓷插针生产中的实际情况,结合本实验室的陶瓷插针产品开发的研发实际,设计了一套CCD 显微放大测量系统,详细论述了系统的测量原理,设计了相应的硬件和软件系统。硬件系统主要由显微放大镜、CCD 黑白摄像头和计算机组成;软件系统主要为图像处理和结果计算程序。图像处理和结果计算算法为该测量系统的关键。通过研究和试验,图像处理应用最优阈值和动态阈值的方法分割陶瓷插针的CCD 图像,提取陶瓷插针的边缘,用邻域平均的方法去除噪声;结果计算根据计算几何的原理,应用最大外接圆和最小内接圆算法,求出陶瓷插针外圆和内孔的包络圆,算出陶瓷插针的同轴度值。针对该测量系统,研究应用两种测量方法测量陶瓷插针的同轴度,方法一根据解析几何的原理,不对陶瓷插针图像进行图像分割等处理,直接测量计算插针的同轴度值;方法二采用图像处理的方法编程计算插针的同轴度值。用方法一对比方法二,试验表明方法二能用于测量陶瓷插针毛坯的同轴度值。本文所设计的CCD 显微放大测量系统基本能用于测量陶瓷插针的同轴度。