集成电路制造工艺的不断进步和基于IP复用的设计方法学革新,使得SoC芯片得到越来越广泛的应用;同时这又使得SoC芯片结构日益复杂,规模日益扩大,如何有效地对SoC芯片进行测试成为一个迫切需要解决的问题。JTAG接口是一种标准的测试接口,利用该接口可以对芯片内部逻辑进行测试和调试。在本文中ARM核的测试是利用JTAG接口进行的,根据JTAG接口协议,可以生成所需的测试矢量。利用ARM7TDMI提供的扩展JTAG接口和扫描链的能力,本文使用JTAG接口对MBIST进行初始化配置并串行移出最终的测试结果。各种类型的嵌入式存储器大量集成已经成为SoC芯片的一个重要特征。由于ATE所能存储的测试矢量十分有限,因此无法直接由ATE提供存储器测试所需的测试矢量。为了压缩测试所需的矢量,本文利用一种新的MBIST结构对存储器进行测试,所有的测试矢量都由MBIST自动生成,因此它能够很好地解决测试矢量压缩问题。该MBIST结构能够支持各种类型的嵌入式存储器,例如单端口、双端口SRAM,Cache以及CAM(Content Addressable Memories)等。为了解决CAM的测试这一难题,本文应用了一种新的CAM测试算法并验证了该算法的有效性。在SoC测试尤其是宏模块的测试过程中,测试效率比较低。通过测试调度可以提高测试效率,充分利用测试带宽和测试资源。本文采用了一种通过简单的测试调度整合测试矢量、提高测试效率的方案。通过分析,可以得出最终的测试矢量压缩比最高可以达到50%,测试时间也仅为调度前的一半。论文最后总结了研究成果,指出了尚需解决的几个问题以及今后的研究方向。