随着超大规模集成电路(VLSI)复杂度的急剧增加,人们对其中的模块布局问题提出了更高的要求。但是人工的进行物理设计已经远远的不能满足该问题的要求,因此自动布局方法在计算机辅助设计(CAD)中的地位显的更加重要。VLSI模块布局问题是一个NP完全问题,一般采用启发式算法解决。目前,随着对超大规模集成电路布局算法更加广泛和深入的研究,人们提出了许多较为有效的布局算法,如遗传算法、模拟退火算法等,但是它们的布局质量还不太令人满意,尤其是在VLSI模块布局问题中存在边界约束、预置模块或软模块等限制条件的时候,布局结果的“面积”或者“长宽比”较差。模块布局问题仍然是VLSI设计中最具挑战性的问题之一。本文基于传统的模拟退火和遗传算法,提出了一种新的VLSI模块布局算法。新算法采用序列对(SP)编码方式,该编码方式已被证明可以成功的应用在解决VLSI模块布局问题的算法中。为了验证新算法的有效性,程序采用MCNC的标准数据集[12]和两个随机生成的模块集合作为实验数据。经过多次的测试,实验结果表明本文的算法在布局质量方面有很大的优势。