本论文研究内容主要围绕电子元器件的可靠性筛选进行探讨,分析了电子元器件的筛选项目和筛选应力,介绍了几种常用的筛选项目、研究了半导体典型筛选方案设计。论文中对电子元器件可靠性筛选方案设计进行了详细的研究,具有重要的理论意义和应用价值。本论文选题主要来源于频发的整机故障,从电子整机系统的性能谈及电子元器件的可靠性,而对于电子元器件来说,最有效的办法就是进行可靠性筛选。电子元器件质量保证来源于可靠性筛选,可靠性筛选对于不存在缺陷而性能良好的电子元器件来说是一种非破坏性试验,对于有潜在缺陷的电子元器件来说能诱发其失效,施加的应力能使潜在缺陷激活导致电子元器件失效,进而剔除,从而提高电子元器件的可靠性。本论文研究目的主要研究在已有的筛选标准的前提下,制定的能够覆盖各院的统一的筛选流程。本论文的研究意义在于提高该批产品的可靠性水平。在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺等方面潜在的不良因素所引发的缺陷元器件—早期失效元器件,而把具有一定特性的合格元器件挑选出来。一批元器件由于通过筛选剔除了早期失效的产品,就可提高该批产品的可靠性水平。在正常情况下,失效率可以降低半个到一个数量级,个别的甚至可降低两个数量级。本论文研究的实用价值在于使这些有缺陷的器件在装机前被剔除,从而减少在现场使用时造成维修和停机费用。早期发现失效器件,是能够取得较大的经济效益和社会效益。研究工作理论基础建立在透彻研究《微电子器件试验方法和程序》、《半导体分立器件试验方法》、《电子和电气元件试验方法》上,研究常规筛选中的典型试验项目,明确各项目主要针对的缺陷,对筛选项目的分析及筛选应力的分析及确定。本论文的研究方法:通过对电子元器件大量的摸底试验和失效分析,在筛选中要和失效分析相结合,在筛选中出现的功能失效、参数严重超差和整批的不合格需进行失效分析,以确定失效是制造缺陷,还是筛选中设备故障或过应力造成的,确定失效模式,找出失效机理,进而来确定筛选项目和筛选条件。本论文的主要成果就是制定了两类通用筛选流程,设计了典型型号筛选方案,研究了国产器件的补充筛选。讨论了二极管实际操作中的筛选程序,定制筛选通用流程,对于不同质量等级的器件进行不同的筛选,高质量等级器件只需进行符合性检查,低质量等级就要进行升级筛选,质量等级越高,筛选的项目就越少。对质量等级为CAST的二极管2CK75、质量等级为G的三极管3DK35E进行筛选方案设计:通过器件常见的失效模式确定筛选项目;通过器件手册,多次试验确定筛选应力;根据任务型号确定筛选时间;选择最具代表性的参数进行测试;通过测试后的数据分析和失效判据比较,来判断参数是否超差,功能是否失效。国产器件的补充筛选,依据通用筛选流程,在厂家一筛的基础上确定补充项目和条件,补筛试验项目时还要注意和补充的项目有关联的试验,保证补充筛选的有效性。同时研究了IGBT的筛选方案设计,对于最新的型号进行筛选方案设计。最终结论:可靠性筛选还是很有必要的。筛选流程定制,就要明确筛选项目、筛选条件。同时确保筛选项目、筛选条件的适用性、有效性、可操作性。可靠性筛选方案设计时,必须保证筛选项目和筛选应力的适用性,有效性,可操作性,通过试验后数据分析和失效判据来评价筛选方案的可行性。研究工作中的不足:我们在进行可靠性筛选时,筛选付出很大的代价和时间。根据现有仪器设备,有些失效模式在无损的条件下还无法检测出来,很难用常规筛选方法予以完全剔除。解决的思路:更应该重视利用快速筛选来达到同样的目的,这是我们以后要关注的问题。筛选不是万能的,像制造上的缺陷就需要破坏性物理分析进行判断,来检查电子元器件的制造工艺和质量,是一种检查制造缺陷有效的方法。