在白光干涉法偏振耦合测试中,通常认为被测光纤的双折射与波长无关,保偏光纤两正交轴的传播常数差为一恒定值。但在实际中,保偏光纤的双折射是与波长有关的,其快慢轴的色度色散系数不相同,即在保偏光纤中存在双折射色散。由于双折射色散的存在,偏振耦合测试的空间分辨率和最大测试距离明显下降。在实验室已研制出的分布式偏振耦合测试仪的基础上,从白光干涉的基本理论出发,分析了双折射色散对偏振耦合测试中耦合点包络宽度和干涉条纹对比度的影响,提出了两种提高偏振耦合测试空间分辨率和最大测量长度的方案。同时实验验证了有关双折射色散的理论分析,计算出了被测保偏光纤双折射色散系数为0 .0164ps (k m(?)nm)。主要工作内容1.从白光干涉基本原理出发,推导了存在单臂不均衡色散时的白光迈克耳逊干涉仪的条纹分布。2.建立了存在双折色散时的分布式偏振耦合测试干涉模型。推导出此时耦合点的干涉条纹分布,分析了干涉包络宽度和对比度的影响因素,给出了存在双折射色散时系统的空间分辨率和最大测试范围。3.提出了两种提高偏振耦合测试范围的方法——基于光学滤波器的偏振耦合测试方法和迈克耳逊干涉仪单臂加入色散补偿介质的偏振耦合测试法。4.搭建了基于光学滤波器的改进结构,分析了该结构对提高偏振耦合测试光纤测量长度的作用。设计并制作了该结构中的光开关驱动电路。5.分析了迈克耳逊干涉仪中引入单臂色散补偿介质的方法,推导出补偿后的干涉条纹分布,证明了该方法的可行性。对利用固定色散补偿介质进行双折射色散补偿进行了讨论。6.测试了双折射色散对偏振耦合测试的影响,实验结果与理论分析基本吻合。计算出了被测光纤的双折射色散系数为0.0164 ps (k m(?) nm)。