在偏振光学和晶体光学领域，尤其在偏光器件应用上，波片(相位延迟器)是光学调制系统中的重要器件，它能对一定波长的光产生特定的相位延迟，进而改变光的偏振态。在这些系统中，波片与其他种类的偏光器件一起控制光的偏振态。由于波片特殊的光学特性，在应用光学的许多场合都需要波片的参与。本文在分析已有测量方法的基础上，利用实验室现有条件，提出延迟量测量的可靠方案，建立了延迟量自动测量装置，实现了延迟量量值的独立复现。延迟量复现所采用的波长为532nm，复现量值的量值范围为0～180°。波片延迟量测量结果的不确定度为U=0.16°(k=2)。　　本论文涉及延迟量校准装置的建立，量值复现，方法研究，测量结果不确定度的分析与评定，校准装置性能评估，量值传递方法等。本文主要分为六章：　　第一章介绍了延迟量的应用领域、研究现状、课题研究内容和意义；　　第二章介绍了偏振基本理论和延迟量测量原理及常用方法；　　第三章详细介绍了延迟量校准装置的光路系统、控制系统及控制方案：　　第四章描述了装置各部分的性能检验方法，及装置总体性能的考察结果；　　第五章进行了延迟量测量结果的不确定度分析；　　第六章描述了延迟量的量值准确度的验证方法，并与国外仪器对比测量结果，验证结果的可靠性；　　第七章对本文进行总结及展望。　　本文的主要创新点是：利用矩阵光学的基本理论(琼斯矩阵和米勒矩阵)与测量方法，设计并建立了延迟量的自动测量装置；利用蒙特卡罗法分析了该系统的不确定度；通过旁证实验验证测量结果的有效性。