绝缘瓷环由于其良好的性能被广泛应用于电子设备中，其质量的好坏将直接影响设备的安全性。目前，国内的瓷环生产厂家大多仍使用人工检测的方式来保障瓷环质量，检测效率较低，生产成本较大。随着机器视觉理论以及计算机技术的发展，使用机器代替人工进行表面缺陷检测已经成为一个势不可挡的趋势。本文根据瓷环表面缺陷检测系统的技术要求，设计了瓷环表面缺陷检测系统的总体结构，提出了缺陷检测关键环节的硬件设计方案和检测处理流程。主要研究内容如下：（1）搭建系统硬件平台，从系统整体设计的高度划分了主要的功能模块。针对具体需求，对相机、镜头等设备选型作着重介绍。（2）针对系统实时性与识别率要求难以同时满足的问题，给出系统检测基本流程,采用快速检测和精确检测相结合的分层处理流程来满足检测精度和速度的要求。提出基于滑动窗口的快速检测法，实现对瓷环是否含有缺陷的快速判断。只对含有缺陷的瓷环作进一步的精确检测。实验结果表明分层处理可在保证检测率的基础上，大大提高检测效率。（3）针对瓷环缺陷成像复杂难以分割的问题，在分析了几种常用分割算法的基础上，结合瓷环成像特点，提出两级图像分割法来获取缺陷区域。使用基于阈值的分割获得瓷环区域后，采用自适应的Canny算子进行边缘检测，结合改进的数学形态法进行边缘连接，从而获得缺陷区域。（4）分析几种缺陷的特点，提取缺陷特征参数。分别设计了一种基于规则的缺陷分类方法以及基于DAG-SVM的缺陷分类器。选取200个包含各类缺陷的瓷环使用两种分类器进行分类测试，识别率分别为83.5%、89%。