精神发育迟滞(Mental Retardation，MR)，又称为智力低下和智力发育障碍，发生在胎儿期、围产期、儿童期等大脑发育成熟阶段之前，是一类遍及全球、危害患者身心健康的精神发育障碍性疾病。MR在群体中的发病率约2-3％，患者智商(IQ)＜70，其中0.3％的患者存在严重智力障碍。MR的病因复杂，其中遗传因素约占2/3。遗传流行病学分析表明X连锁精神发育迟滞(X-linked mentalretardation，XLMR)约占全部MR的25-50％。现已发现与XLMR相关的位点251个，克隆疾病基因90个。　　 人类染色体显带技术、荧光原位杂交技术、Sanger测序、SNP芯片技术、外显子组测序技术等为遗传病的研究提供了便利有效的工具，使得遗传性疾病的研究及临床诊断快速发展。目前国际上外显子组测序技术已被广泛应用于疾病的病因学研究，而国内罕见报道。　　 本研究收集一个精神发育迟滞家系，在排除患者染色体异常和FMR1基因CGG重复次数异常的前提下，应用外显子组测序法分析患者所有外显子序列，发现X染色体UPF3B基因存在c.1288C＞T变异，导致氨基酸改变为R430X，并通过Sanger测序法验证了此结果。UPF3B基因编码蛋白参与构成nonsense-mediated mRNA decay(NMD)复合体，调节多个基因及其亚型的mRNA的转录及降解。　　 本研究结果显示:该精神发育迟滞家系患者染色体核型正常，FMR1基因检测CGG重复次数属正常范围;家系患者系UPF3B基因 R430X突变导致;外显子组测序技术是鉴定疾病致病基因的有效策略之一。