洁净度是塑料薄膜产品质量的重要指标之一,如何提高塑料薄膜产品的洁净度,是众多塑料薄膜生产企业所面临的重要问题。为了解决这一难题,本文针对塑料薄膜缺陷检测系统及其相关技术进行了研究。通过广泛的阅读资料和调研,分析了该技术领域存在的问题,采用在测量上广泛使用的光电转换器件线阵CCD技术,完成了塑料薄膜缺陷检测系统的总体方案设计。基于DSO的塑料薄膜缺陷检测系统在平行光的照射下,通过线阵CCD控制电路获得塑料薄膜缺陷信号,使用虚拟示波器DSO-2902对一维缺陷信号进行采集、传输,借助于计算机进行分析处理,从而精准地检测出缺陷。利用多分辨率分析思想,首先对缺陷进行粗定位。提出了塑料薄膜中缺陷检测算法,并通过虚拟示波器DSO-2902将线阵CCD输出信号直接输送到计算机内指定存储单元,由数据采集软件系统对计算机内的信号数据进行处理,从而实现对缺陷具体尺寸和所处位置的检测。为了减小测量的误差,需要对测量系统进行亚像素级别边缘点定位,本文提出了三种边缘检测方法:直线拟合法、对称点法和曲线拟合法,三种方法均能够有效的实现亚像素级别的边缘定位。对比实验和定量分析表明,曲线拟合法具有较快的速度,精度最高,误差最小,重复性最好,故本系统采用曲线拟合法来实现亚像素级别边缘定位。通过对虚拟示波器DSO-2902的二次开发,实现了对整个检测过程的控制,系统能显示和保存计算得到的结果,为用户提供了良好的人机界面。本文分别应用直线拟合法、对称点法和曲线拟合法对150μm缺陷进行亚像素级别边缘定位,结果表明三种方法测得的方差分别为3.4824、2.9544和0.6906像素点差分别为5.6、5.1和2.24,可以看出曲线拟合法是最准确的,该方法测得的2.24个像素点差相当于6.272μm的像元误差,转换为实际测量误差不到9μm。